| 主要設備 | 型號 | 主要技術指標 | 用途 |
氣相色譜質譜儀
（GC-MS） | 安捷倫
型號：5973 | DSQ 質譜儀，質量數(shù)范圍1-1050
分辨率 全質量范圍內(nèi)為單位質量分辨率
掃描速度 10000u/sec
靈敏度 Scan 1pg 八氟萘
柱箱操作溫度 400℃，直線升溫速率0.1-120℃/min
直接進樣桿最高溫度 450℃
質譜配有全新NIST標準譜庫。 | 復雜液體或有氣味固體類組分的分離與鑒定，VOCTVOC含量測定 |
| 高效液相色譜（HPLC） | 安捷倫
型號Agilent1100 | 四元泵：
流量精度≤0.07% RSD≤0.02min,
標準自動進樣器 樣品瓶容量：可達100個(2mlx100)
進樣量：0.1-100ul
波長范圍 190-600nm | 分離、分析、純化有機化合物 |
凝膠滲透色譜儀 （GPC）
| Waters 型號：1515 | 分子量范圍：103－107（與GPC聯(lián)機試驗）
均方根旋轉半徑：10－500nm(典型范圍) | 測定高聚物（分子量800以上）分子量及分布，均方根旋轉半徑分布，構象及枝化
（流動相主要是四氫呋喃、氯仿、二甲亞楓、水，因此要求聚合物在這幾種溶劑中有很好的溶解性） |
| 熱重分析儀（TGA） | 美國TA 型號：Q 50 | 熱天平靈敏度：0.1μg
溫度范圍：室溫～1000°C 升降溫速率：0.1°C～200 °C/min 溫度精度：± 2°C | 熱穩(wěn)定性能評定；揮發(fā)物的分析；氧化誘導期的測定；固化過程分析等 |
差示掃描量熱儀（DSC）
| 美國TA 型號：Q 200 | 溫度范圍：－170°C ～725°C 升降溫速率：0.01~500°C/min可調(diào)
控溫精度：優(yōu)于0.1°C 量熱精度：優(yōu)于0.1% | 測定熱轉變溫度（玻璃化轉變溫度、熔融溫度等）；測定比熱容 |
動態(tài)熱機械分析儀（DMA）
| 美國TA公司 型號：Q800 | 最大動態(tài)力：18N
最小動態(tài)力：0.0001N
力解析度：0.00001N
應變解析度： 1 納米
模量范圍：10E3 ~ 3＊10E12 Pa
頻率范圍：0.01 ~ 200 Hz
最大形變范圍： /- 0.5 ~ 10,000 （微米）
溫度范圍： -150 ~ 600 ℃ 等溫精度：0.1 ℃ | 玻璃化轉變和熔化測試，二級轉變的測試，頻率效應，轉變過程的最佳化，彈性體非線性特性的表征，疲勞試驗，材料老化的表征，浸漬實驗，長期蠕變預估等最佳的材料表征方案。 |
| 傅里葉變換紅外光譜儀（FT-IR） | Thermo Fisher 型號：Nicolet6700 | 波數(shù)范圍：7800-350cm-1
分辨率：≤0.09cm-1, | 化合物定性分析，高分子鏈結構分析，混合物成分分析，分子間相互作用 |
紫外可見分光光度計(UV-vis)
| Thermo | 光譜帶寬: 1 nm，2nm 光源: 氙燈
波長范圍: 190 –1100 nm；波長精度: ± 0.8 nm (全波長) ；波長重復性: < 0.1 nm
掃描速度: <1 to 6,000 nm/min; 回轉速度: 31,000 nm/min
吸光度范圍: > 3.5 Abs 吸光度精度: 0.5 A: ± 0.004A;1A: ± 0.006A; 2A: ± 0.010A; | 結構分析、物質鑒定、吸光度測定 |
| 掃描電鏡（SEM） | 美國 FEI 型號：QUANTA 200 FEG
| 高真空模式分辨率：3.0nm 低真空模式分辨率：4.0nm
放大倍數(shù)：*5 ~ *300，000
加速電壓：0.5kv ~ 30kv 低真空度：1 ~ 270Pa
高、低真空切換：圖形菜單設定
樣品臺：大尺寸、超級對中樣品臺（可裝直徑150mm樣品），
三軸馬達驅動：X:800mm Y:40mm T:-10 ~ +90度 R：360度 Z:5 ~ 48mm | SEM-研究結晶高分子的形態(tài)結構；研究高分子多相復合體系的形態(tài)結構；
研究纖維和織物的表面形態(tài)結構；研究物質的表面形態(tài)結構 |
| 能量色散-X射線能譜儀 | 美國EDAX公司GENESIS 2000 | 有效探測器面積：10m㎡
能量分辨率：優(yōu)于等于132cV | 元素分析范圍：能夠探測到低至鈹Be4(包括鈹）的所有元素 |
透射電子顯微鏡(TEM)
| 日本電子株式會社型號：JEM—2100， | 最小束斑尺寸：0.5nm
點分辨率：0.19nm
線分辨率：0.14nm
加速電壓：80、100、120、160、200kv | 分析金屬樣品的金屬缺陷、晶界、相界等微結構、分析高分子材料的形態(tài)及結構、微粒形狀觀察及其尺寸分析 |
X-射線衍射儀（XRD）
| 美國FEI | 測量精度：角度重現(xiàn)性±0.0001°；
最小步長0.0001°； 角度范圍（2θ）：-110～168°；
最大掃描速度或最高定位速度：1500°/分；
溫度范圍：室溫～900℃；
環(huán)境壓力：1mbar-10bar； | 結晶或半結晶物質的定性定量分析 |
| 電感耦合等離子體質譜（ICP-MS） | Thermo Scientific 型號：XSeries II |
| 微量（ppb級別）金屬元素定量分析 |
馬爾文激光粒度儀
| 型號：Mastersizer 3000 |
| 測定粒徑（0.01~3500um）及分布 |
熱機械分析儀（TMA)
| 日本 型號：TMA8310 |
| 用于測量固體（包括園片、薄膜、粒狀、纖維）液體和凝膠在力作用下的形變性能常用的負荷方式有壓縮、針入、拉伸、彎曲等 |
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