結(jié)構(gòu)分析

X射線衍射儀

(Bruker D8 Advance)

1.無機材料物相定性分析

2.無機材料物相半定量分析

粉狀、塊狀、薄膜

1)粉末樣品量不少于0.5g；

2）塊狀樣品要有一個面積不小于1.0cm × 1.0cm 的近似平面；

3）薄膜樣品要有一定的厚度，面積不小于1.0cm × 1.0cm

場發(fā)射掃描電子顯微鏡

(JEOL JSM-6700F)

1.形貌分析

2.EDS微區(qū)化學成分分析

放大倍數(shù)：25×～650,000×

粉狀、塊狀

場發(fā)射掃描電子顯微鏡

(SU-8010)

1.形貌分析

放大倍數(shù)：20×—800,000×（二次電子像）

2.微區(qū)化學成分分析，元素分析范圍：Be—U

粉狀、塊狀

KYKY掃描電子顯微鏡

（KYKY-EM3900M）

1.形貌分析

放大倍數(shù)：8×～25,0000×

粉狀、塊狀

塊狀樣品體積不宜太大（≤ 5×5×2mm較適合）

透射電子顯微鏡

(JEOL JEM-2010)

1.粉體形貌分析

2.高分辨晶格像分析

3.電子衍射分析

4.EDS微區(qū)化學成分分析

放大倍數(shù)：50×—1,500,000×

粉狀、塊狀

透射電子顯微鏡

（JEOL JEM-F200）

1.粉體形貌分析

2.高分辨晶格像分析

3.電子衍射分析

4.微區(qū)化學成分分析，元素分辨范圍：B-U

5.原位加熱分析

放大倍數(shù)：

TEM模式：20×-2,000,000×

STEM模式：200×-15,000,000×

粉狀、塊狀

原子力顯微鏡

（Dimension Icon）

1.樣品表面形貌分析

2.數(shù)據(jù)種類：表面粗糙度Ra、Rq值等

塊狀

直徑<150mm、厚度<15mm的塊體材料可直接檢測

X射線三維顯微鏡（工業(yè)CT）

（nanoVoxel-2600）

1.塊體樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)、缺陷

塊狀

樣品尺寸2cm左右

激光拉曼光譜儀

（in Via）

1.材料結(jié)構(gòu)鑒定和分子相互作用測試

粉狀、塊狀、液狀

傅里葉紅外光譜儀

(Thermo Nicolet 5700)

1.分子結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)研究、化學組成分析

2.化合物分子結(jié)構(gòu)解析

粉狀、液狀

成分分析

X熒光光譜儀

(Panalytical Axios Advanced)

1.硅酸鹽巖石化學分析

2.水泥化學分析

分析元素范圍：O到U

粉狀（過325目篩）、

塊狀

等離子體發(fā)射光譜儀

(PerkinElmer Optima 2100DV)

1.金屬元素定量分析

2.非金屬元素定量分析

能夠測量73種常量和微量元素

粉狀、液狀

高效液相色譜儀

（Alliance e2695）

1.化學成分分析

易溶于流動相（甲醇、乙腈）的液狀、粉狀

紫外可見分光光度計

(PerkinElmer Lambda 850)

1.物質(zhì)定性定量分析

2.固體色度測量

3.相對、絕對反射率測定

液狀、塊狀

固體樣品量 ≥0.2 g

液體樣品量 ≥ 2 ml

熱分析

綜合熱分析儀

(Netzsch STA 449C)

1.DTA-TG分析（DSC-TG）

2.比熱容分析（1000℃以下）

溫度范圍：室溫～1600℃

粉狀、塊狀

綜合熱分析儀

(Netzsch STA 449F5)

1. DSC-TG分析（DTA-TG）

2.比熱容分析（1000℃以下）

溫度范圍：室溫～1600℃

粉狀、塊狀

熱膨脹儀

(Netzsch DIL 402C)

1.線性熱膨脹系數(shù)測定

2.燒結(jié)溫度分析

溫度范圍：室溫～1600℃

條狀

長度20-25mm

橫截面直徑2-6mm

熱膨脹儀

(Netzsch DIL 402E)

1.線性熱膨脹系數(shù)測定

2.燒結(jié)溫度分析

溫度范圍：室溫～1600℃

條狀

長度20-25mm

橫截面直徑2-6mm

高溫顯微鏡

（EM301-M17）

1.熔融溫度與熔融范圍測試

2.燒成溫度與燒成范圍測試

粉狀

激光導熱儀

（LFA457）

1. 材料的熱擴散系數(shù)測試

2. 材料的熱傳導性能測試

溫度范圍：室溫～1100℃

圓片狀，厚度1-6mm左右，直徑12.5-12.7mm

物性分析

激光粒度儀

(Malvern MS3000)

1.粒度大小及分布測試

粒度范圍：0.01～3500µm

粉狀、液狀

納米粒度及ZETA電位儀

(Malvern Nanosizer ZS)

1.納米粒度分析

2.Zeta 電位分析

粒度范圍：0.6～6000nm

粉狀、懸浮物質(zhì)、乳狀液

萬能材料試驗機

(Instron 5566)

1.抗折強度分析

載荷范圍： 0至50kN的拉伸、壓縮和循環(huán)加載

條狀

長度40-60mm

橫截面直徑2mm-20mm

比表面及孔分析儀

(MicromeriticsASAP2020M)

1.單點、多點 BET分析

2.中孔分布、孔大小、孔體積測定

3.微孔分析

孔徑測定范圍：0.35～500nm

比表面測定范圍：0.0005m²/g至無上限

粉狀、塊狀

熒光-發(fā)光光度計

（LS55）

1.材料激發(fā)光譜和發(fā)射光譜的測量

粉狀（顆粒大小均一）、

液狀

臺式測色分光光度計

（Ci7600）

1. 材料白度、色度的測試

2. 釉面光澤度的測試

粉狀(顆粒大小均一)，液狀，塊狀（要求表面平整）

旋轉(zhuǎn)粘度計（BROOKFIELD 博勒飛DV2T LV）

1.粘度測定

粘度測試范圍：1-6Mmpa.s

液狀（陶瓷墨水）

表面張力儀(SITA t100)

1.表面張力測定

測試范圍：10-100mN/m

適合粘度范圍：2000cps以下

液狀（陶瓷墨水）